半導體測試探針是一種精密接觸元件，廣泛應用於晶圓測試（Wafer Test）與成品測試（Final Test）階段。其主要功能是將測試設備的電訊號準確地傳導至晶片的特定接點，以檢測晶片的電性參數、功能完整性及可靠性。探針必須具備高導電性、耐磨損與良好彈性，以確保測試精度與壽命。
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